「AIやカーボンニュートラルの進化を支える、デバイスプロセス・信頼性技術」
第127回IEEE関西支部TPC技術講演会（NC共催）のご案内
Device process and reliability technologies leading the evolution of AI and carbon neutrality
The 127th IEEE Kansai Section Technical Lecture Meeting
IEEE 会員各位
IEEE Members
［主催］IEEE 関西支部 Chair 梶川 嘉延(Yoshinobu Kajikawa)
IEEE 関西支部 TPC Chair 石田 昌宏（Masahiro Ishida）
［共催］IEEE Japan Council
IEEE 関西支部 NC Chair 村田 忠彦（Tadahiko Murata）
IEEEでは会員サービスの一環として、革新的な研究・開発・事業に関する講演会等を企画、実施しています。この度は、下記の通り第127回関西支部TPC技術講演会（NC共催）を開催します。IEEE会員のみならず、学生や会員のご家族、ご友人など非会員の方々もご参加いただけますので、ご周知頂ければ幸いです。（詳細は案内チラシ でもご覧いただけます)
(詳細は案内チラシ[Flyer]でもご覧いただけます)
IEEE Kansai Section, TPC (Organizer), Japan Council and NC(Co-sponsors) will have the 127th IEEE Kansai Section Technical Lecture Meeting as follows.
記
テーマ (Title)
AIやカーボンニュートラルの進化を支える、デバイスプロセス・信頼性技術
Device process and reliability technologies leading the evolution of AI and carbon neutrality
講演者(Lecturer)
浦岡 行治 氏 奈良先端科学技術大学院大学 物質創成科学研究科 教授
Professor Yukiharu Uraoka, Nara institute of Science and Technology
内容(Abstract)
ICTやAIの急速な進化がもたらす超情報化社会、そしてカーボンニュートラルやSDGsが目指すサステナブルな未来。このような未来を支える基盤となっているのが、半導体、太陽電池、ディスプレイなどの薄膜デバイス技術です。これらの技術の驚異的な進化によって、省エネルギーでありながら高性能なデバイスが次々と実現され、データセンター、スマートフォン、自動車、再生可能エネルギーなど、現代社会のあらゆる分野でその進化を推進しています。
浦岡氏は、この薄膜デバイス技術の中核を担うプロセス技術と信頼性技術の研究に長年にわたり尽力されてきました。本講演では、IEEEフェローの称号を授与された根拠となる発光現象を活用した革新的な薄膜デバイスの信頼性評価技術をはじめ、最先端半導体の立体構造チャネル実現に不可欠なALD技術や、高効率太陽電池の低温薄膜形成技術など、世界をリードするプロセス・デバイス技術の最新の成果をご紹介いただきます。
Device technologies such as semiconductors, solar cells, and displays are rapidly driving the ultra-information society powered by ICT and AI, as well as the sustainable society achieved through carbon neutrality and the SDGs. The evolution of these device technologies has enabled the realization of energy-efficient and high-speed devices, driving advancements in various sectors of society, including data centers, smartphones, automobiles, and renewable energy.
Professor Uraoka has been involved in research on process technologies and reliability technologies, which are at the core of the device technologies. In this lecture, we will introduce his achievements of "contribution to reliability evaluation technology for thin film devices", which is the reason for giving the title of IEEE Fellow, along with the latest progress in process technologies and reliability technologies that are leading the world.
日時 (Time & Date)
2024年 11月 20日（水）15:00～16:30
Wednesday, November 20th 2024, 15:00～16:30
開催方式
Zoomオンライン
This lecture will be held online by using Zoom
言語(Language)
日本語(Japanese)
プログラム (Program)
- 15:00 開会挨拶・講師ご紹介等
- 15:05 浦岡様ご講演
- 16:05 質疑応答
- 16:15 閉会の挨拶
講演者略歴 (Biography)
1985年豊橋技術科学大学電気電子工学科修士修了。松下電器産業株式会社（現パナソニック）半導体研究センター入社。1999年奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科助教授。2009年同大学教授。
現在 マテリアル研究プラットフォームセンター長。IEEEフェロー。応用物理学会フェロー。
専門は半導体工学、ディスプレイ工学。
参加費 (Registration fee)
無料 (Free)
参加申込み先 (Contact for registration)
参加ご希望の方は下記URLからご登録ください。（参加定員：200名）
なお、登録後の変更(再編集)はフォーム上で行ない、変更の旨をメールで「問い合わせ窓口」までお知らせください。
≪オンライン参加申し込み≫
申し込み期限
2024年11月18日 (月)
定員に達したら受付を終了します。
注意: 「参加申し込み済メール」の自動返信ご確認
お申込みいただきますと登録された参加者のメールアドレス宛に「会場参加」または「オンライン参加」の「申し込み済メール」がシステムから自動送信されますので必ずご確認願います。
自動送信の案内が届かない場合は「迷惑メール」を確認し、それでも届いてない場合は■問い合わせ窓口にご連絡ください。
当日のご参加について
「オンライン参加」の方は「オンラインURL情報」からご参加下さい。
問い合わせ窓口
IEEE Kansai Section TPC Chair 石田 昌宏: ishida.masahiro@ieee.org
