中村 太信 氏（首都大学東京）
| 対象論文 | "The increasing failure rate property of
connected-(1,2)-or-(2,1)-out-of-(m,n):F lattice systems
- the cases of m = 2, 3, 4 -" 2018 Asia-Pacific International Symposium on Advanced Reliability and Maintenance Modeling (APARM 2018) |
| 受賞理由 | 部品がm 行n 列の格子状に配置されており，2 個以上の隣接した部品が故障した場合に システム故障となる2次元システムを考え，このシステムに対してIFR保存問題に取り組ん だ．稼働状態数の効率的な算出式を与え、部品のIFR が保存されるシステムは3種類存在 することを解析的に示した．これにより部品が任意の寿命分布を持つ場合における最適保 全方策の提案に寄与する有用な研究である． |
瀬戸屋 孝 氏（東芝デバイス＆ストレージ株式会社）
| 開発課題名 | "LSI信頼性認定ガイドラインの国際標準化に関する功績" |
| 受賞理由 | 長年にわたり半導体の品質，信頼性業務に従事してきた実績．特に25社を超える関係企業か らの技術者を統括し，LSI 製品や個別半導体製品の信頼性認定に関する効果的な試験方法 のガイドラインを作成し，国際標準化を実現させた功績は多大である． |
授賞式の様子
© 2019 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter授賞式は2019年6月22日(土)に法政大学市ヶ谷キャンパスにて執り行われました．
（写真はChairの弓削哲史教授（右）と受賞者（左））
【IEEE Reliability Society Japan Chapter 学術奨励賞】
中村 太信 氏（写真左）
【IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter信頼性技術功績賞】
瀬戸屋 孝 氏（写真左）
