町田文雄 氏，Ruofan Xia 氏，Kishor S. Trivedi 氏（日本電気株式会社， Duke University, Duke University）
| 対象論文 | "Performability Modeling for RAID Storage Systems by
Markov Regenerative Process" IEEE Transactions on Dependable and Secure Computing, 2015 |
| 受賞理由 | マルコフ再生過程に基づいて，現実の RAID ストレージシステムの評価をすることを 主眼においた内容になっており，結果として得られた信頼性性能評価尺度がその ままストレージシステムの設計に対して利用できる有用な研究である． |
北川智大 氏（防衛大学校理工学研究科）
| 対象論文 | "Non-Periodic Inspection and Replacement Policy for a
Multi-unit One-shot System with Minimal Repair" The 9th International Conference on Mathematical Methods in Reliability (MMR2015) |
| 受賞理由 | 長期間保管され，1度だけ使用されるワンショットシステムの最適保全方策を提案 している．システムが複数の非同一要素から構成され，点検周期が非一定間隔で ある等，任意性が高い枠組での解析となっており普遍性を伴った有用な研究である． |
中村英夫 氏（日本大学）
| 開発課題名 | 信頼性・安全性研究成果の列車制御分野への実践的展開における功績 |
| 受賞理由 | 長年にわたり，信頼性・安全性の理論的，実践的研究に従事し，多岐にわたる フィールドで最先端の研究成果を上げてきた．特に，自動列車停止制御装置， 無線式列車制御システム等の先駆的研究開発により，列車制御分野をリード してきた功績は多大である． |
授賞式の様子
© 2016 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter授賞式は2016年6月18日(土)に早稲田大 早稲田キャンパス 11号館にて執り行われました。
（写真は受賞者とChairの早川有教授）
【IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter論文賞】
町田文雄 氏（写真左）
【IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter学術奨励賞】
北川智大 氏（写真左）
【IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter信頼性技術功績賞】
中村英夫 氏（写真左）
