IEEE Reliability Society Japan Chapter

Chapter Award Winner 2013

（更新年月日：2015年3月1日）

当Chapter では，IEEE Reliability Society Japan Chapter Awards 制度を創設し，2003年から運用，2008年度からAwardsの名称が変更されております．
2013年度Awardの受賞者は次の方々です．

(1) IEEE Reliability Society Japan Chapter 論文賞　1件

Shinji Yokogawa, Hideaki Tsuchiya

対象論文	"Lifetime Distribution Analysis of Stress-Induced Voiding Based on Void Nucleation and Growth in Cu/Low-κ Interconnects" 　　IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Vol.13, No.1, 2013

(2) IEEE Reliability Society Japan Chapter 学術奨励賞　0件

(3) IEEE Reliability Society Japan Chapter 信頼性技術功績賞　0件

授賞式は2014年6月14日(土)に日本大学経済学部本館にて執り行われました。

（写真は受賞者とChairの木村光宏教授）
【IEEE Reliability Society Japan Chapter論文賞】
　　
　横川慎二氏（写真左）　　　　　　　　