IEEE Reliability Society Japan Chapter

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Chapter Award Winner 2008

（更新年月日：2009年7月15日）

当Chapter では，IEEE Reliability Society Japan Chapter Awards 制度を創設し，2003年から運用しております．今回(2008年度)よりAwardsの名称が変更されております．
受賞者はつぎの方々です．

(1) IEEE Reliability Society Japan Chapter 論文賞　1件

Itaru Yoshimura and Yoshinobu Sato (Tokyo University of Marine Science and Technology)
対象論文 "Safety Achieved by the Safe Failure Fraction (SFF) in IEC61508"
　　IEEE Transactions on Reliability, Vol.57, No.4, 2008
(2) IEEE Reliability Society Japan Chapter 学術奨励賞　3件

工藤大地氏 ((株)日本信号)
対象講演 "光結合フェールセーフ論理回路を用いた安全デバイスの提案"
　　電子情報通信学会安全性研究会, 2008年2月19日

近内亜紀子氏 ((独)海上技術安全研究所)
対象講演 "空港における保安技術の研究開発動向 −核四重極共鳴を用いた爆薬検知−"
　　電子情報通信学会安全性研究会, 2008年11月26日

長塚豪己氏 (首都大学東京)
対象講演 "ワイブル分布の母数推定に関する一考察"
　　電子情報通信学会信頼性研究会, 2008年6月20日
"3パラメータガンマ分布における一致推定量の構成"
　　電子情報通信学会信頼性研究会, 2008年12月12日
(3) IEEE Reliability Society Japan Chapter 信頼性技術功績賞　0件

授賞式の様子

授賞式は2009年6月20日(土)日本大学経済学部7号館において執り行いました。

【IEEE Reliability Society Japan Chapter論文賞】
　　
　　　　吉村 達 氏 ・ 佐藤 吉信 氏


【IEEE Reliability Society Japan Chapter学術奨励賞】
　　
　　　　工藤 大地 氏

　　
　　　　近内 亜紀子 氏

　　
　　　　長塚 豪己 氏
© 2009 IEEE Reliability Society Japan Chapter