IEEE Reliability Society Japan Chapter

Chapter Award Winner 2007

（更新年月日：2008年7月30日）

当Chapter では，IEEE Reliability Society Japan Chapter Awards 制度を創設し，2003年から運用しております．
第5回目の受賞者はつぎの方々です．

（１）論文賞　1件

横川慎二氏、土屋秀昭氏　（NECエレクトロニクス　基盤技術開発本部） 対象論文：「Effects of Al doping on the electromigration performance of damascene Cu interconnects」， ournal of Applied Physics, Vol.101, pp.013513-1-6, 2007

（２）学術奨励賞　1件

田村慶信氏　（広島工業大学　情報学部） 対象講演：「オープンソースソフトウェアに対する確率微分方程式モデルとその適合性評価 に関する一考察」， 電子情報通信学会信頼性研究会2007年5月18日，信学技報R2007-11

（３）信頼性技術功績賞　1件

益田昭彦氏　（帝京科学大学　理工学部）　 開発課題名：「製品およびサービスの信頼性・安全性解析に有効な三要素ＦＭＥＡおよびＥＭＥＡの開発とその実用化」

授賞式の様子

授賞式は2008年7月26日(土)日本工業大学神田キャンパスにおいて執り行いました。

論文賞　横川慎二氏

学術奨励賞　田村慶信氏

信頼性技術功績賞　益田昭彦氏