(更新年月日:2005年6月10日)
当Chapter では,IEEE Reliability Society Japan Chapter Awards 制度を創設し,2003年から運用しております.
第2回目の受賞者はつぎの方々です.
Hisashi YAMAMOTO(Tokyo Metro. Inst. Tech.) Tomoaki AKIBA(Yamagata Coll. Ind. & Tech.) 対象論文:「Efficient algorithm for the reliability of a 2-dimensional cylindrical k-within-consecutive-(r, s)-out-of-(m, n): F system」, IEICE Transactions Fundamentals,Vol. E87-A, No. 5, pp.1251-1257, 2004 |
林坂弘一郎氏 (広島大学大学院) 対象講演:「マルコフ型ソフトウェア信頼性モデルに基づいた最適リリース問題に関する考察」 電子情報通信学会信頼性研究会2004年5月 |
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河野真治氏 (電気通信大学) 対象講演:「ユビキタス社会における状態監視保全への一考察」 電気通信大学情報システム学研究科シンポジウム2004年2月 |
根田利勝氏 (東芝システムテクノロジー株式会社) 須藤治氏 (株式会社ケンウッド) 「発電プラント監視制御ソフトウェアシステムの開発」 |
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井原惇行氏 (楠本化成株式会社) 「X線CTを用いた電子部品の故障解析」 |
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渡辺隆行氏 (日産自動車株式会社) 「低速追従機能付きACCのための技術開発」 |