(更新年月日:2005年10月23日)
IEEE Asian Reliability Conference 2005への参加を希望される方は,以下の文面を
ktadacc.tmit.ac.jp
もしくは
(FAX)042-583-5119
にて多田宛に
11/15までにお送り下さい.
---------------------------------------------------------------------------- ARC 2005 (IEEE Asian Reliability Conference 2005) 参加申込書 ご氏名(和文): ご氏名(英文): 敬称(いずれかを残して下さい): Mr. Ms. Dr. Prof. ご所属(和文): ご所属(英文): ご連絡先(e-mail かfaxを 必ずご記入下さい) e-mail: fax : phone : なお、ご参加される方は当日は名刺を2枚お持ち下さい。 参加される方を残して下さい。費用は当日徴収致します。 (1)全日(午前と午後のチュートリアルに参加、情報交換会を含む) 登録費用 15,000円 (2)午後のみ(チュートリアルに参加、情報交換会を含む) 登録費用 10,000円 (2)学生(学生証をお持ち下さい) 登録費用 5,000円 今回は並行して3セッションが開催されます。 会場の都合もあり、以下の点を事前にご教示下さい。 午前・午後の参加は主にどのセッションに参加されますか? (午前中のセッション間の移動は自由です) 午前(参加するSessionを残して下さい) (1) Session A: Principles of Reliability (2) Session B: Reliability of Human and Complex Systems (3) Session C: Reliability Modeling 午後(参加するTutorialを残して下さい) (1) Tutorial A: Jeffrey Voas (Dynamic Software Testing) (2) Tutorial B: Sam Keene (Six Sigma) (3) Tutorial C: Richard Doyle (Thermal Analysis of Electronic Systems and Parts) (4) Tutorial D: Bret Michael (Software-Based Safety Kernels for Hybrid Systems) and John Viega (Common Misconceptions about Cryptography) 情報交換会 (登録費用に含まれています。希望される方を残して下さい) 参加 不参加 (ktada@cc.tmit.ac.jpもしくは(FAX)042-583-5119にて多田宛に11/15までにお送り下さい) ==========================================================<ここまで> © 2005 IEEE Reliability Society Japan Chapter