IEEE Reliability Society Japan Chapter

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IEEE Asian Reliability Conference 2005参加申込

(更新年月日:2005年10月23日)

IEEE Asian Reliability Conference 2005への参加を希望される方は,以下の文面を
ktada@cc.tmit.ac.jp
もしくは
(FAX)042-583-5119
にて多田宛に 11/15までにお送り下さい.

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ARC 2005 (IEEE Asian Reliability Conference 2005) 参加申込書

ご氏名(和文):
ご氏名(英文):
  敬称(いずれかを残して下さい): Mr.   Ms.   Dr.  Prof.
ご所属(和文):
ご所属(英文):
ご連絡先(e-mail かfaxを 必ずご記入下さい)
 e-mail:
 fax   :
 phone :

なお、ご参加される方は当日は名刺を2枚お持ち下さい。

参加される方を残して下さい。費用は当日徴収致します。
(1)全日(午前と午後のチュートリアルに参加、情報交換会を含む)
        登録費用  15,000円
(2)午後のみ(チュートリアルに参加、情報交換会を含む) 
         登録費用 10,000円
(2)学生(学生証をお持ち下さい) 
         登録費用  5,000円

今回は並行して3セッションが開催されます。
会場の都合もあり、以下の点を事前にご教示下さい。

午前・午後の参加は主にどのセッションに参加されますか?
   (午前中のセッション間の移動は自由です)

午前(参加するSessionを残して下さい)
(1) Session A: Principles of Reliability
(2) Session B: Reliability of Human and Complex Systems
(3) Session C: Reliability Modeling

午後(参加するTutorialを残して下さい)
(1) Tutorial A: Jeffrey Voas (Dynamic Software Testing)
(2) Tutorial B: Sam Keene (Six Sigma)
(3) Tutorial C: Richard Doyle (Thermal Analysis of Electronic Systems and
                               Parts)
(4) Tutorial D: Bret Michael (Software-Based Safety Kernels for Hybrid Systems)
            and John Viega   (Common Misconceptions about Cryptography)

情報交換会 (登録費用に含まれています。希望される方を残して下さい)
  参加 不参加 

              (ktada@cc.tmit.ac.jpもしくは(FAX)042-583-5119にて多田宛に11/15までにお送り下さい)
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