IEEE Japan Council 会員各位

IEEE Electron Devices Society Japan Chapter

Chair 小柳 光正

Vice Chair 木村 紳一郎

*** IWMS-SS2009 のお知らせ ***

EDS Japan Chapter共催のInternational Workshop on Materials and Devices for Safety and Security 2009を2月21日(土)に開催致します。多くの方々のご参加をお

待ちしております。

今週金曜日の2月20日に東工大大岡山キャンパスにてInternational Workshop on Materials and Devices for Safety and Securityが開催されます。最近半導体集積

回路や電池では様々な新材料の導入が盛んですが、今まで経験の無い新材料の安全

性・信頼性をどのように担保していくかは大きな懸念点です。これは材料技術者の

みで考える事柄だけでなく、新材料を導入するデバイス技術者や、デバイスをシス

テムに組み上げて実用に供するシステム技術者のチームワークにより初めて解決で

きる事柄でありますが、それぞれ異なる専門分野であるが故に、三者が学会で一堂

に会する機会は今まであまりありませんでした。また製品やシステムの安全性・信

頼性は企業にとっては大変にデリケートな内容であり、公式な場に講師として出席

いただくことが中々難しいこともありました。今回は幸いなことに、産官学より世

界の第一線でご活躍されている国内外の著名な講師の方々をお招きすることができ

ました。又と無い機会であると思います。パネルディスカッションもワークショッ

プの最後に準備されておりますので、皆様にご参加いただき、活発なご議論をお願

いできればと思います。また学生や若手研究者の諸君にとっては、将来製品を開発

するときに、材料・デバイス・システムのレベルで安全性・信頼性をどのように考

えるべきかを知る絶好のチャンスとなると思います。ご多用の中とは存じますが、

下記のとおりご案内申し上げますので、宜しくご参加賜りますようお願い申し上げ

ます。

なお、会議パンフレットは下記のURLからダウンロードできます。

記

■日　時：平成21年2月20日（金）9：30〜17：20

■場　所：東京工業大学 大岡山キャンパス ディジタル多目的ホール（西9号館2階）

　　　　東京都目黒区大岡山２−１２−１（東急目黒線・大井町線　大岡山駅）

マップ http://www.titech.ac.jp/access-and-campusmap/e/o-okayama-campus.html

■主　催：東京工業大学　統合研究院　URL: http://www.iri.titech.ac.jp/

■共　催：東京工業大学応用セラミックス研究所

東京工業大学グローバルCOEプログラム フォトニクス集積コアエレクトロ

ニクス

　　　　東京工業大学フロンティア研究センター

　　　　東京工業大学大学院総合理工学研究科

　　　　IEEE EDS Japan Chapter

■技術共催：IEEE Electron Devices Society

応用物理学会シリコンテクノロジー分科会

■協　賛：日本電気化学会

■備　考：参加無料、ご参加の場合には、事前ウェブ登録をお願いできれば幸いで

すが、登録なしで当日会場に直接お越しいただいても結構です。

http://www.iri.titech.ac.jp/securematerial/form.html

■お問合せ先、securematerial@iri.titech.ac.jp

東京工業大学 統合研究院　　石川　正道　教授(Tel:045-924-5561)

■会議パンフレットダウンロードURL

http://www.iri.titech.ac.jp/pdf/20090220.pdf

＜プログラム＞

開会の挨拶（9:30-10:00）

東京工業大学　学長　伊賀健一

東京工業大学統合研究院ソリューション研究機構 機構長 上羽 貞行

東京工業大学応用セラミックス研究所 所長 近藤 建一

東京工業大学統合研究院イノベーションシステム研究センター 教授 石川 正道

講演会（招待講演）

�T．電池開発における安全性のデザイン（10:00-11:50）

「安心安全な燃料電池を実用化するための技術的戦略」

燃料電池開発情報センター 顧問 本間 琢也

「材料科学から見たリチウム電池：安全性と信頼性を求めて未来の電池系へ」

東京工業大学大学院総合理工学研究科 教授 菅野 了次

「次世代高性能二次電池における安全性確保のための材料開発」

（独）産業技術総合研究所電池システム研究グループ グループ長 境 哲男

昼食（11:50-13:30）

�U．半導体開発における信頼性マネジメント（13:30-15:15）

「新規な応用に向けたCMOS 技術プラットフォームへの革新的材料の統合：

好機と安心安全への挑戦」

IME シンガポール 所長 Dr. Dim-Lee Kwong

「300mm シリコンR&D プロセスラインにおける新材料の導入に係る安全性及び

信頼性の課題」

IMEC ベルギー 副所長 Prof. Cor Claeys

「ロジック及びメモリチップの信頼性要求とコンピュータシステムとの接点につい

て」

IBM トマス・ワトソン研究所 IBM フェロー Dr. Tak Ning

休憩（15:15-15:30）

「MPU 及びシステムの設計戦略から見た安全性及び信頼性」

東芝セミコンダクター�� 首席技監 斎藤 光男

�V．パネルディスカッション（15:45-17:15）

「材料・デバイス・システムの“すり合せ”による信頼性及び安全性の技術開発

マネジメント」

本間 琢也、境 哲男、Dim-Lee Kwong、Cor Claeys、Tak Ning、斎藤 光男

司会進行 石川 正道

（敬称略、順不同）

閉 会（17:20）

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IEEE EDS Japan Chapter連絡先: Secretary 田中　徹

E-mail:　ttanaka@ieee.org

Home page:　http://www.ieee-jp.org/section/tokyo/chapter/ED-15/

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