（更新年月日：2024年07月03日）
2024 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Annual Meeting & 2023 Chapter Awards受賞記念講演会
下記の要領にて，2024 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Annual Meetingおよび2023年度 Chapter Awards受賞記念講演会を開催いたします． 参加を希望される方は，準備の関係上，8月23日（金）までに，こちら (Googleフォーム) からお申し込み下さい． なおオンライン参加のみ，9月3日（火）まで引き続き受付致します． 9月4日（水）以降にZoomのURLをメールでお知らせします． 日 時: 2024年9月7日（土） 13:40- 開催形式: ハイブリッド 会 場: (対面) ふれあい貸し会議室新宿No63 住所 新宿区新宿４丁目２−２１相模ビル５階No 63 (Googleマップ) 案内 新宿駅ミライナタワー改札から徒歩２分 (オンライン) Zoom 参 加 費: 無料 プログラム： 13:40 開場 14:00-14:05 Annual Meeting 開会挨拶および事業報告（Chair:横川慎二） 14:05-14:30 授賞式・記念撮影 14:30-14:35 Chapter Awards受賞記念講演会開会挨拶（Chair:横川慎二） 14:35-15:00 A Comprehensive Evaluation of Time-Dependent Dielectric Breakdown of CuAl2 On SiO2 for Advanced Interconnect Application Toshihiro Kuge氏, Masataka Yahagi氏, Junichi Koike氏 （東北大学） (2023年度 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 論文賞) 15:00-15:25 Non-homogeneous Markov Process Modeling for Software Reliability Assessment Siqiao Li氏, Tadashi Dohi氏, Hiroyuki Okamura氏 （広島大学） (2023年度 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 論文賞) 15:25-15:50 Conditions for Monotone Maintenance Policy in Partially Observable Markovian Systems with Population Heterogeneity 糟谷瑞希氏 （電気通信大学） (2023年度 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 学術奨励賞) (休憩) 10分 16:00-16:45 カラー電子写真作像装置／インクジェット作像装置の信頼性技術開発 門田靖氏 （株式会社リコー） (2023年度 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 信頼性技術功績賞) 16:45-17:30 信頼性工学及び経営工学の課題における理論的解法提案 山本久志氏 （東京都立大学） (2023年度 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 信頼性技術功績賞) 17:30-17:35 閉会挨拶（Vice Chair:田村信幸） 懇 親 会： 18:30- 対面会場の近隣にて （懇親会は会費を別途申し受けます。5,000円の予定です。）
問合せ先： 横川 慎二（2023-2024 IEEE Reliability Society Japan Chapter Chair） yokogawa(at)uec.ac.jp ※ メール送信の際には、(at)を@に置き換えてください。
IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Seminar
下記の要領にて，2023 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Seminar を開催いたします． 参加を希望される方は，準備の関係上，12月7日（木）までに，こちら (Googleフォーム) からお申し込み下さい． Googleフォームからの自動返信メールにより，当日のZoom URLをお知らせします． 日時：2023年12月8日（金）16:00~18:00 会場：オンライン開催（Zoomを利用） 主催：IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 参加費：無料 プログラム： 16:00-16:05 開会挨拶(Chair:横川 慎二) 16:05-17:00 Prof. Yiliu Liu（Norwaigian University of Science and Technology） 講演題目：Sustainable safety and safe sustainability: RAMS engineering perspectives with experiences in the Nordic countries (英語でのご講演です) 講演概要： The upcoming speech aims to offer a comprehensive exploration of two concepts: sustainable safety and safe sustainability. The previous one focuses on ensuring the safety of emerging techniques that contribute to the achievement of sustainability development goals. The latter one, on the other hand, investigates reliability, safety, and maintenance engineering, with a specific emphasis on minimizing emissions and energy consumption. This concept recognizes the importance of maintaining safety requirements while simultaneously prioritizing environmentally friendly practices. Some research projects and valuable experiences from Norwegian research institutions, as well as the offshore, wind power, and hydrogen industries, will be presented. These examples will showcase practical applications and innovative solutions that exemplify the principles of sustainable safety and safe sustainability. 17:00-17:55 北野 隆康 氏（鉄道総合技術研究所） 講演題目：鉄道信号システムにおける安全性技術 講演概要：鉄道においては、安全な輸送が最も重要である。従来、列車の安全な運行を確保 するために安全性・フェイルセーフ技術を活用して信号システムが構築されてきた。そ こで、本講演では、信号システムにおいて安全を確保する仕組みの概要と、そのシステ ムや装置で使用されている安全性・フェイルセーフの技術について述べる。さらに、近 年の汎用技術の高度化を踏まえ、今後、信号システムにおいて汎用機器を活用するため の考え方について提案する。 17:55-18:00 まとめ(Vice Chair:田村 信幸)
問合せ先： 横川 慎二（2023-2024 IEEE Reliability Society Japan Chapter Chair） yokogawa(at)uec.ac.jp ※ メール送信の際には、(at)を@に置き換えてください。
IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Seminar
(終了しました．)下記の要領にて，2022 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Seminar を開催いたします． 参加を希望される方は，準備の関係上，10月25日（火）までに，こちら (Googleフォーム) からお申し込み下さい． または，事務局（大阪大学 鄭 jzheng(at)ist.osaka-u.ac.jp）までご連絡下さい． 日時：2022年10月26日（水）15:00~ 会場：オンライン開催（Zoomを利用） 主催：IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 参加費：無料 プログラム 15:00-15:05 開会挨拶(Chair:岡村 寛之) 15:05-15:45 講師：高橋 寛 氏（愛媛大学） 題目：つながるデバイスの信頼性強化設計 概要：サイバーフィジカルシステムにおいては，つながるデバイスが多様な価値を創出することが期待されている。 一方で，創出された価値を維持するためには，つながるデバイスのディペンダビリティを向上させる技術の開発が必要不可欠である。 本発表では，つながるデバイスのディペンダビリティを向上されるために，フォールトトレランス（耐故障性）の観点から「機能安全」を 保証するフィールドテスト技術の開発，およびセキュリティの観点からセキュアなテストアクセス機構（バンダリスキャン）の開発に関して述べる。 発表者は，これらの技術をつながるデバイスの信頼性強化設計として確立することを目指している。 (休憩) 10分 15:55-16:35 講師：三谷 祐一郎 氏（東京都市大学） 題目：先端シリコンデバイスにおける信頼性課題とそのメカニズム 概要：CMOS/ロジックを構成する先端トランジスタは3ナノメートル以下とさらなる微細化が進行し、不揮発性メモリにおいてもメモリセルの3次元積層数が 200層を超える開発がなされるなど、技術革新はとどまるところを知らない。一方、このような微細化、高性能化に加え、高信頼化も社会実装の点で極めて重要である。 従来のデバイス信頼性は、一般的に高い温度での加速試験から室温近傍の実用動作温度での寿命予測を行うが、近年量子コンピュータや宇宙用途の拡大など極低温下で 使用されるケースも想定され、信頼性保証や寿命予測のあり方も見直しが必要となるかもしれない。トランジスタやメモリセルの信頼性課題は、絶縁膜の界面や膜中の欠陥、 およびその生成によって引き起こされることは、世代や構造、材料が変わっても重要な課題と認識され、それらを理解し如何に抑制するかが、高信頼性デバイス実現のキーとなる。 本講演では、この“古くて新しい”絶縁膜界面および膜中の欠陥の問題にフォーカスし、先端CMOS/ロジック、不揮発性メモリに共通する信頼性課題との関連性について議論をする。 16:35-16:40 閉会挨拶(Vice Chair:横川 慎二)
IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Annual Meeting & 2021年度 Chapter Awards受賞記念講演会
(終了しました．)下記の要領にて，2022 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Annual Meetingおよび2021 Chapter Awards受賞記念講演会を開催いたします． 参加を希望される方は，準備の関係上，10月19日（水）までに，こちら (Googleフォーム) からお申し込み下さい． または，事務局（大阪大学 鄭 jzheng(at)ist.osaka-u.ac.jp）までご連絡下さい． 日時：2022年10月20日（木）13:00~ 会場：オンライン開催（Zoomを利用） 主催：IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 参加費：無料 プログラム 13:00-13:05 開会挨拶（Chair:岡村 寛之） 13:05-13:20 授賞式 13:20-14:00 永村 美一 氏（ルネサスエレクトロニクス株式会社） (2021年度 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 論文賞 受賞者) 講演題目：LSIデバイスの信頼性のためのAIによる回路レイアウトの解析手法の検討 講演概要：LSIの不良発生の危険性がある回路上の場所を特定することと、不良要因を推定 するための情報を抽出することを目的とする。物理的解析で事前に検出した不良 位置の回路レイアウトをCNN(畳み込みニューラルネットワーク)に学習させて 不良の危険性のある場所を特定できるようにする。不良レイアウトに共通する 特徴をAIで抽出して不良発生要因を推定する。LSIの製品開発初期は不良情報が 少ないため不良要因の予測が難しいが、AIの適用および教師データの作成方法を 工夫することで不良の特徴抽出と識別精度の両方を向上できる可能性が得られた。 14:00-14:05 閉会挨拶（Vice Chair:横川 慎二）
IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Seminar
(終了しました．)下記の要領にて，2021 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Seminar を開催いたします． 参加を希望される方は，準備の関係上，12月8日（水）までに，こちら (Googleフォーム) からお申し込み下さい． または，事務局（立命館大学 鄭 jzheng(at)asl.cs.ritsumei.ac.jp）までご連絡下さい． 日時：2021年12月10日(金曜日) 会場：オンライン開催（Zoomを利用） 主催：IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 参加費：無料 プログラム 16:00-16:05 開会挨拶(Chair:岡村 寛之) 16:05-16:45 講師：西 康晴 氏（電気通信大学） 題目：AI・機械学習プロダクトの品質保証に関する課題とパラダイムシフト 概要：AIや機械学習の技術を用いた製品やサービスによる破壊的イノベーションがビジネスを 大きく変えようとしている。その一方で、きちんと品質を保証できている組織は極めて少ない。 本講演では、そうした今後確実に主流となるモダンなソフトウェアに対して、伝統的なソフト ウェア品質保証のアプローチをとると発生してしまう課題を明らかにする。そして、モダンな ソフトウェアの品質保証に必要となるパラダイムシフトについて述べる。 (休憩) 10分 16:55-17:35 講師：金川 信康 氏（(株)日立製作所 研究開発グループ 制御・ロボティクスイノベーションセンタ） 題目：AIをより安全に制御に使うための一提案 概要：第２次AI（人工知能）ブーム中に提案された「ニューラルネットワーク」を発展させた 「ディープ・ラーニング」（深層学習）の研究が起爆剤となり、現在再びAIの研究が活発に進 められており、第３次AIブームと呼ばれている。ディープ・ラーニングを初めとする人工知能 は人知を超えた最適解を提供してくれるが、その安全性は必ずしも保証されたものではない。 そこで人工知能の動作の安全性を検証、保証する技術を付加することにより、人知を超えた安 心・安全な最適解を得られることが期待される。 17:35-17:40 閉会挨拶(Vice Chair:横川 慎二)
IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Annual Meeting & 2020年度 Chapter Awards受賞記念講演会
(終了しました．)下記の要領にて，2021 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Annual Meetingおよび2020 Chapter Awards受賞記念講演会を開催いたします． 参加を希望される方は，準備の関係上，9月20日（月）までに，こちら (Googleフォーム) からお申し込み下さい． または，事務局（立命館大学 鄭 jzheng(at)asl.cs.ritsumei.ac.jp）までご連絡下さい． 日時：2021年9月22日(水曜日) 会場：オンライン開催（Zoomを利用） 主催：IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 参加費：無料 プログラム 15:00-15:05 開会挨拶（Chair:岡村 寛之） 15:05-15:20 授賞式 15:20-16:00 高橋 奈津美氏（防衛大学校） (2020年度 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 学術奨励賞 受賞者) 講演題目：遺伝的アルゴリズムによるネットワーク信頼度を考慮した2目的最適化 講演概要：通信システムや電力供給システムなど社会基盤を支えるシステムの多くはネットワーク構造を有し， 高い信頼性が求められる．本研究では，信頼度を考慮した2目的ネットワークにおける最適化問題を 取り上げ，遺伝的アルゴリズム（GA）による解法を検討する．GAの各世代における，現世代までの 評価指標によるエッジの優位性と解の多様性を反映した子個体の生成方法について述べる． (休憩) 10分 16:10-16:50 中村 太信氏（東海大学） (2020年度 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 論文賞 受賞者) 講演題目：Connected-(r,s)-out-of-(m,n):Fシステムにおける最適配置問題 講演概要：最適配置問題とは，システム信頼度を目的関数として，それを最大化するコンポーネント配置を探索する 問題である．最適配置を求めることは，信頼性を保証したシステムを経済的に設計する上で重要となる． 本講演では，コンポーネントがm行n列の格子状に配置されており，r行s列のコンポーネントがすべて故障 する場合に故障となるconnected-(r,s)-out-of-(m,n):Fシステムに対する最適配置問題の解法について述べる． 具体的には，分枝限定法をベースとして，必要条件に基づく枝刈り条件，対称配置を排除する枝刈り条件， システム信頼度に基づく枝刈り条件を組み込んだ最適配置探索アルゴリズムを説明する．計算機実験では， このアルゴリズムは，既存のアルゴリズムと比較して，短時間で最適配置が得られることを確認した． (休憩) 10分 17:00-17:40 山田 茂氏（鳥取大学） (2020年度 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 信頼性技術功績賞 受賞者) 講演題目：私のソフトウェア信頼性工学研究40年の歩み（仮題） 講演概要：1980年に米国シラキュース大学Professor A.L. Goelの研究室に滞在し，本格的にソフトウェア信頼性モデリングの 研究を開始してから，これまでの約40年間の研究成果について，モデリングの応用としてのソフトウェアプロジェクト に対する品質マネジメントの研究活動も合わせて議論する． 17:40-17:45 閉会挨拶（Vice Chair:横川 慎二）
IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Annual Meeting & 2019年度 Chapter Awards受賞記念講演会
（終了しました．）下記の要領にて，2020 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Annual Meetingおよび2019 Chapter Awards受賞記念講演会を開催いたします． 参加を希望される方は，準備の関係上，11月16日（月）までに，こちら (Googleフォーム) からお申し込み下さい． または，事務局（法政大学 作村 sakumura(at)hosei.ac.jp）までご連絡下さい． 日時：2020年11月19日(木曜日) 会場：オンライン開催（Zoomを利用） 主催：IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 参加費：無料 プログラム 15:00-15:05 開会挨拶（Chair:弓削 哲史） 15:05-15:10 授賞式 15:10-15:50 Reliability Analysis for Disjoint Paths Takeru Inoue 氏 (NTT Network Innovation Laboratories) (2019年度 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 論文賞 受賞者) 15:50-15:55 閉会挨拶(Vice Chair:岡村 寛之)
IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Seminar
（終了しました．）下記の要領にて，2020 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Seminar を開催いたします． 参加を希望される方は，準備の関係上，11月16日（月）までに，こちら (Googleフォーム) からお申し込み下さい． または，事務局（法政大学 作村 sakumura(at)hosei.ac.jp）までご連絡下さい． 日時：2020年11月19日(木曜日) 会場：オンライン開催（Zoomを利用） 主催：IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 参加費：無料 プログラム 16:00-16:05 開会挨拶(Chair:弓削 哲史) 16:05-16:45 講師：笠原 正治 氏（奈良先端科学技術大学院大学） 題目：ビットコイン・マイニング・メカニズムの数理的分析アプローチ 概要：本講演では，ビットコイン・ブロック・チェーンにおけるマイニング・ メカニズムに焦点を当て，待ち行列理論を用いたトランザクション承認 時間解析法，および極値理論を応用したブロック発見時間分析を紹介す る．また，過去2年間のトランザクションに対する統計的分析結果と解析 モデルに基づく数値結果を比較し，実際のブロック・チェーンにおける マイナーの挙動について議論する． 16:45-17:25 講師：餘利野 直人 氏（広島大学） 題目：不確定環境における電力システムのロバスト信頼性 － リアルタイム電力市場構築と単相交流マイクログリッド構想 － 概要：近年の電力システムは、再エネ電源の大量導入、市場取引の拡大 による不確定性の増大、さらに自然災害の頻発など、環境が大きく変化 している。ここでは、新環境における信頼性維持の方策として、講演者 による日本学術会議安全工学シンポジウム特別講演（本年7月）および 電気学会パネルディスカッション（同9月）での講演内容を、ロバスト 信頼性維持の視点から整理し講演する。ロバスト信頼性とは、講演者らが 提唱する不確定環境下での電力システムの信頼性維持の概念である。 この概念に基づくリアルタイム電力市場構築および単相交流マイクロ グリッド構想についても言及する。 17:25-17:30 閉会挨拶(Vice Chair:岡村 寛之)
IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Annual Meeting & 2018年度 Chapter Awards受賞記念講演会
（終了しました。講演会の様子）下記の要領にて，2019 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Annual Meetingおよび2018 Chapter Awards受賞記念講演会を開催いたします． 参加を希望される方は，資料準備の関係上，6月7日(金)までに事務局（法政大学 作村 sakumura(at)hosei.ac.jp）までご連絡下さい． また，IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Seminar（受賞記念講演会後に開催）のあとに懇親会も 予定しております．ご出席される方は，合わせて6月7日(金)までに事務局（法政大学 作村 sakumura(at)hosei.ac.jp）までご連絡下さい． 日時：2019年6月22日(土) 会場：法政大学市ヶ谷キャンパス（ボアソナードタワー19階D会議室） （住所：東京都千代田区富士見2-17-1） (http://www.hosei.ac.jp/gaiyo/campus/ichigaya/ichigaya.html), (http://violin.k.hosei.ac.jp/190401_ichigaya.jpg) 主催：IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 参加費：無料 プログラム 13:30-13:35 開会挨拶（Chair:弓削 哲史） 13:35-13:45 授賞式・記念撮影 13:45-14:15 The increasing failure rate property of connected-(1,2)-or-(2,1)-out-of-(m,n):F lattice systems - the cases of m = 2, 3, 4 - 中村 太信 氏 (首都大学東京) (2018年度 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 学術奨励賞 受賞者) 14:15-14:45 LSI信頼性認定ガイドラインの国際標準化に関する功績 瀬戸屋 孝 氏（東芝デバイス＆ストレージ株式会社） (2018年度 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 信頼性技術功績賞 受賞者) 14:45-14:50 閉会挨拶(Vice Chair:岡村 寛之)
IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Seminar
（終了しました。講演会の様子）下記の要領にて，2019 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Seminar を開催いたします． 参加を希望される方は，資料準備の関係上，6月7日(金)までに事務局（法政大学 作村 sakumura(at)hosei.ac.jp）までご連絡下さい． また，Seminarの終了後に懇親会も予定しております．ご出席される方は，合わせて6月7日(金)までに事務局（法政大学 作村 sakumura(at)hosei.ac.jp）までご連絡下さい． 日時：2019年6月22日(土) 会場：法政大学市ヶ谷キャンパス（ボアソナードタワー19階D会議室） （住所：東京都千代田区富士見2-17-1） (http://www.hosei.ac.jp/gaiyo/campus/ichigaya/ichigaya.html), (http://violin.k.hosei.ac.jp/190401_ichigaya.jpg) 主催：IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 参加費：無料 プログラム 15:00-15:05 開会挨拶(Chair:弓削 哲史) 15:05-16:05 講師：石川 冬樹 氏（国立情報学研究所） 題目：高信頼自動運転に向けて～ソフトウェアテスティング技術の観点から 概要：本講演では，自動運転に代表される自律的なサイバーフィジカルシステムの信頼性に関し， ソフトウェアテスティング技術の観点から研究動向や我々の取り組みを紹介する．具体的には， Search-based TestingやFalsification（反例探索）と呼ばれる最適化を用いたテスティ ング技術について紹介する．また現在大きな課題となっている，機械学習，特に深層学習を用い て構築した人工知能システムの信頼性に関する動向についても紹介する． 16:15-17:15 講師：伊藤 誠 氏（筑波大学） 題目：自動車の自動運転に関する安全性について 概要：自動車の自動運転を実現するためには，自動運転のシステムの安全性確保が前提となる． この講演では，自動運転技術の現状を述べるとともに，安全な自動運転のための課題について 述べる．また，安全性の定量的な評価並びに保証の在り方についても考察してみたい． 17:15-17:20 閉会挨拶(Vice Chair:岡村 寛之)
IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Annual Meeting & 2017年度 Chapter Awards受賞記念講演会
（終了しました。講演会の様子）下記の要領にて，2018 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Annual Meetingおよび2017 Chapter Awards受賞記念講演会を開催いたします． 参加を希望される方は，資料準備の関係上，6月8日までに ieee.rl07@gmail.com までご連絡下さい． また，IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Seminar（受賞記念講演会後に開催）のあとに懇親会も 予定しております．ご出席される方は，合わせて6月8日までに ieee.rl07@gmail.com までご連絡下さい． 日時：2018年6月16日(土) 会場：首都大学東京 秋葉原サテライトキャンパス 1202室ブロックA, B （住所：千代田区外神田 1-18-13 秋葉原ダイビル 12 階（1202） ）(http://www.comp.tmu.ac.jp/manycore/images/TMU_AKIBA.pdf) 主催：IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 参加費：無料 プログラム 14:10-14:15 開会挨拶(Chair:福本 聡) 14:15-14:20 授賞式・記念撮影 14:20-14:50 A comprehensive evaluation of software rejuvenation policies for transaction systems with Markovian arrivals Junjun Zheng 氏, Hiroyuki Okamura 氏, Lin Li 氏, Tadashi Dohi 氏（広島大学） (2017年度 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 論文賞 受賞者) 14:50-15:00 閉会挨拶(Vice Chair:弓削哲史)
IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Seminar
（終了しました。講演会の様子）下記の要領にて，2018 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Seminarを開催いたします． 参加を希望される方は，資料準備の関係上，6月8日までに ieee.rl07@gmail.com までご連絡下さい． また，Seminarの終了後に懇親会も予定しております．ご出席される方は，合わせて6月8日までに ieee.rl07@gmail.com までご連絡下さい． 日時：2018年6月16日(土) 会場：首都大学東京 秋葉原サテライトキャンパス 1202室ブロックA, B （住所：千代田区外神田 1-18-13 秋葉原ダイビル 12 階（1202） ）(http://www.comp.tmu.ac.jp/manycore/images/TMU_AKIBA.pdf) 主催：IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 参加費：無料 プログラム 15:10-15:15 開会挨拶(Chair:福本 聡) 15:15-16:15 講師：高田 毅士 氏（東京大学大学院工学系研究科建築学専攻 教授） 題目：構造工学における安全率と信頼性 概要：構造物に要求される多様な性能を実現させるためには、それらの置かれている環境を適切 に把握し、その環境下で構造物がどのように振る舞うかをできるだけ正確に記述し、様々な材料 から成る構造物自身の強さを把握しておくことが必要である。しかしながら、構造物を取り巻く 環境や材料挙動は極めて不確定であり、それ故に、ある程度の余裕を見込んで設計、建設するこ とになる。この余裕の取り扱い方を取り扱うのが信頼性工学の役割のひとつである。本発表では、 信頼性工学を理解する上で必要となる不確定性の定義と分類について、構造信頼性理論について その最も重要な部分を解説する。 16:25-17:25 講師：蓑原 隆 氏（拓殖大学工学部情報工学科 教授） 題目：無線センサーネットワークのセキュリティ 概要：センサーを持つ小型無線端末を多数配置し，自律的にネットワークを構築することで環境 からの情報を収集する無線センサーネットワークが様々な分野で応用されつつある．しかし， 使用する機器の計算能力，メモリ容量，電力などの制約から十分なセキュリティ対策が取られて いない可能性がある．本講演では，無線センサーネットワークにおいて想定されるセキュリティ の問題とその対策について述べる． 17:25-17:30 閉会挨拶(Vice Chair:弓削哲史)
IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Annual Meeting & 2016年度 Chapter Awards受賞記念講演会
（終了しました。講演会の様子）下記の要領にて，2017 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Annual Meetingおよび2016 Chapter Awards受賞記念講演会を開催いたします． 参加を希望される方は，資料準備の関係上，6月13日までに ieee.rl07@gmail.com までご連絡下さい． また，IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Seminar（受賞記念講演会後に開催）のあとに懇親会も 予定しております．ご出席される方は，合わせて6月13日までに ieee.rl07@gmail.com までご連絡下さい． 日時：2017年6月17日(土) 会場：首都大学東京 秋葉原サテライトキャンパス 1202室ブロックA, B （住所：千代田区外神田 1-18-13 秋葉原ダイビル 12 階（1202） ）(http://www.comp.tmu.ac.jp/manycore/images/TMU_AKIBA.pdf) 主催：IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 参加費：無料 プログラム 13:00-13:05 開会挨拶(Chair:福本 聡) 13:05-13:20 授賞式・記念撮影 13:20-13:50 A Study on the MTTF of Parallel Systems under Dependent Failure-Occurrence Environment 太田 修平 氏 (法政大学大学院) (2016年度 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 学術奨励賞 受賞者) 13:50-14:20 Integrating Animation-Based Inspection Into Formal Design Specification Construction for Reliable Software Systems Mo Li 氏，Shaoying Liu 氏 (法政大学) (2016年度 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 論文賞 受賞者) 14:20-14:50 信頼性工学及び TQMの理論・方法社会における実践適用の 理論・方法社会における実践適用における功績 鈴木 和幸 氏 (電気通信大学) (2016年度 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 信頼性技術功績賞 受賞者) 14:50-15:00 閉会挨拶(Vice Chair:弓削哲史)
IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Seminar
（終了しました。講演会の様子下記の要領にて，2017 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Seminarを開催いたします． 参加を希望される方は，資料準備の関係上，6月13日までに ieee.rl07@gmail.com までご連絡下さい． また，Seminarの終了後に懇親会も予定しております．ご出席される方は，合わせて6月13日までに ieee.rl07@gmail.com までご連絡下さい． 日時：2017年6月17日(土) 会場：首都大学東京 秋葉原サテライトキャンパス 1202室ブロックA, B （住所：千代田区外神田 1-18-13 秋葉原ダイビル 12 階（1202） ）(http://www.comp.tmu.ac.jp/manycore/images/TMU_AKIBA.pdf) 主催：IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 参加費：無料 プログラム 15:10-15:15 開会挨拶(Chair:福本 聡) 15:15-16:15 講師：亀山 修一 氏（富士通株式会社、テクノロジ＆ものづくり事業本部、シニアエキスパートエンジニア） 題目： IoT時代の電子回路の安心安全をめざして 〜バウンダリスキャン技術の最新技術と適用拡大〜 概要：IoT時代を迎え、あらゆるモノに電子回路が搭載されようになり、電子回路はさ らなる小型化と安心安全が要求される。電子回路の小型化を実現するための電子デバイ スの超高密度実装を保証するバウンダリスキャン技術を易しく解説する。さらにムーア の法則の終焉に伴い台頭してきた3D-LSIや部品内蔵基板へのバウンダリスキャン技術応 用や富士通での実践事例を紹介する。 16:25-17:25 講師：田村 慶信 氏（東京都市大学 知識工学部 経営システム工学科 教授） 題目：オープンソースプロジェクトにおけるフォールトデータ分析と信頼性評価法 概要：近年，サーバ用途やOS，さらにはクラウドサービスなど，様々な分野において， オープンソースソフトウェアが利活用されている．しかしながら，ソースコードが世界 中に公開されているため，悪意のあるサイト攻撃や情報流出の標的になり易く，品質上 の問題点が指摘されている．本講演では，オープンソースプロジェクトにおけるフォー ルトデータ分析に基づく信頼性評価に関する研究について紹介する． 17:25-17:30 閉会挨拶(Vice Chair:弓削哲史)
IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Annual Meeting & 2015年度 Chapter Awards受賞記念講演会
（終了しました。講演会の様子）下記の要領にて，当ChapterのAnnual Meeting ならびに 2015 Chapter Awards受賞記念講演会を開催いたします． 参加を希望される方は，資料準備の関係上，6月13日までに ieee.jc.rs@gmail.com までご連絡下さい． 日時：2016年6月18日(土) 会場：早稲田大学 早稲田キャンパス 11号館 8階 819教室 (http://www.waseda.jp/top/access/waseda-campus) キャンパスマップ 主催：IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 参加費：無料 プログラム 12:15-12:20 開会挨拶(Chair:早川有) 12:20-12:35 授賞式・記念撮影 12:35-13:05 Non-Periodic Inspection and Replacement Policy for a Multi-unit One-shot System with Minimal Repair 北川智大 氏（防衛大学校理工学研究科） (2015年度 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 学術奨励賞) 13:05-13:35 信頼性・安全性研究成果の列車制御分野への実践的展開 中村英夫 氏（日本大学） （2015年度 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 信頼性技術功 績賞） 13:35-14:05 Performability Modeling for RAID Storage Systems by Markov Regenerative Process 町田文雄 氏，Ruofan Xia 氏，Kishor S. Trivedi 氏（日本電気株式会社， Duke University, Duke University） (2015年度 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 論文賞) 14:05-14:10 閉会挨拶(Vice Chair:福本聡)
IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Seminar （終了しました。セミナーの様子）
日時：2016年6月18日(土) 会場：早稲田大学 早稲田キャンパス 11号館 8階 819教室 (http://www.waseda.jp/top/access/waseda-campus) キャンパスマップ 主催：IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 参加費：無料 プログラム 14:25-14:30 開会挨拶(Chair:早川有) 14:30-15:10 講師：矢野 弓之介 氏(元（株）富士通コンピュータテクノロジ社 社長) 題目：ディペンダビリティ用語の標準化 概要：はじめに信頼性、ディペンダビリティ用語に関するIECおよびJISの規格 化についての経緯を述べ、次にそれらの規格の概要を述べる。続いて重要基本 用語として「deｐｅｎｄａｂｉｌｉｔｙ」、「failure」、「fault」のIEC、 JISにおける定義、ＪＩＳディペンダビリティ用語改正のための定義案につい て述べ、最後に国内外における規格化の状況について述べる。 15:10-15:50 講師：岩田 浩司 氏（鉄道総合技術研究所 主任研究員（上級）） 題目：鉄道信号装置の安全性確保の考え方と目標アベイラビリティ達成のため の対策決定法 概要：鉄道信号装置には高いレベルの安全性に加えて，高いアベイラビリティ も要求される．この鉄道信号装置の安全性確保の基本的な考え方について述べ る．また，線区の障害発生頻度と障害発生後の影響を総合的に考慮して適用対 策を戦略的に決定できる，目標アベイラビリティ達成のための効果的な対策の 決定法を紹介する． 15:50-15:55 閉会挨拶(Vice-Chair:福本聡)
IEEE Reliability Society Japan Chapter Annual Meeting & 2014年度 Chapter Awards受賞記念講演会（講演会の様子）
日時：2015年6月20日(土) 会場：早稲田大学 早稲田キャンパス 11号館 7階 705教室 (http://www.waseda.jp/top/access/waseda-campus) キャンパスマップ 主催：IEEE Reliability Society Japan Chapter 参加費：無料 プログラム 13:00-13:05 開会挨拶(Chair：早川有) 13:05-13:20 授賞式・記念撮影 13:20-13:50 Nonparametric Maximum Likelihood Estimation of NHPP-based Software Reliability Model 齋藤靖洋 氏（広島大学大学院）(2014年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter 学術奨励賞) 13:50-14:20 Optimal Replacement Last with Continuous and Discrete Policies Xufeng Zhao 氏・中川覃夫 氏・Ming J. Zuo 氏（Qatar University・愛知工業大学・University of Alberta）(2014年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter 論文賞) 14:20-14:25 閉会挨拶(Vice Chair：福本聡)
IEEE Reliability Society Japan Chapter Seminar （セミナーの様子）
日時：2015年6月20日(土) 会場：早稲田大学 早稲田キャンパス 11号館 7階 705教室 (http://www.waseda.jp/top/access/waseda-campus) キャンパスマップ 主催：IEEE Reliability Society Japan Chapter 参加費：無料 プログラム 14:40-14:45 開会挨拶(Chair：早川有) 14:45-15:25 ディペンダビリティ用語の標準化 矢野 弓之介 氏（元（株）富士通コンピュータテクノロジ 社長） 講師都合により中止となりました． 15:25-16:05 位相型分布の信頼性モデルへの応用 岡村 寛之 氏 (広島大学大学院 工学研究科 准教授) 16:05-16:10 閉会挨拶（Vice Chair：福本聡）
IEEE Reliability Society Japan Chapter Annual Meeting & 2013年度 Chapter Awards受賞記念講演会（講演会の様子）
日時：2014年6月14日(土) 会場：日本大学 経済学部（JR水道橋駅）本館２階 中会議室２ (http://www.eco.nihon-u.ac.jp/about/maps/) 主催：IEEE Reliability Society Japan Chapter 参加費：無料 プログラム 13:00-13:05 開会挨拶(Chair：木村光宏) 13:05-13:15 授賞式・記念撮影 13:15-13:55 Lifetime Distribution Analysis of Stress-Induced Voiding Based on Void Nucleation and Growth in Cu/Low-κ Interconnects 横川 慎二 氏（職業能力開発総合大学校）・土屋 秀昭 氏（ルネサス エレクトロニクス(株)） (2013年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter 論文賞) 13:55-14:00 閉会挨拶(Vice Chair：早川有)
IEEE Reliability Society Japan Chapter Seminar（セミナーの様子）
日時：2014年6月14日(土) 会場：日本大学 経済学部（JR水道橋駅）本館２階 中会議室２ (http://www.eco.nihon-u.ac.jp/about/maps/) 主催：IEEE Reliability Society Japan Chapter 参加費：無料 プログラム 14:05-14:10 開会挨拶(Chair：木村光宏) 14:10-15:10 個人ビッグデータの持続可能な利活用 — 時を越えた価値を求めて — Sustainable Use of Personal Big Data: Pursuit of Timeless Value 金 群 氏（早稲田大学 人間科学学術院 教授） 15:10-16:10 フィールドでのデバイス信頼性とモニタリング技術 佐藤 康夫 氏 (九州工業大学 客員教授) 16:10-16:15 閉会挨拶（Vice-Chair：早川有）
IEEE Reliability Society Japan Chapter Annual Meeting & 2012年度 Chapter Awards受賞記念講演会 (講演会の様子)
日時：2013年6月15日(土) 会場：中央大学 後楽園キャンパス 6号館 7階 6701室 (http://www.chuo-u.ac.jp/chuo-u/access/index_j.html) 主催：IEEE Reliability Society Japan Chapter 参加費：無料 プログラム 12:40-12:45 開会挨拶(Chair：木村光宏) 12:45-13:00 授賞式 13:00-13:25 ユーザのリアルタイムな稼働情報に基づく寿命分布推定の一手法 横山 真弘 氏（電気通信大学大学院） (2012年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter 学術奨励賞) 13:25-13:55 The Extended Cumulative Exposure Model (ECEM) and Its Application to Oil Insulation Tests 廣瀬 英雄 氏・作村 建紀 氏（九州工業大学） (2012年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter 論文賞) 13:55-14:00 閉会挨拶(Vice Chair：早川有)
IEEE Reliability Society Japan Chapter Seminar (セミナーの様子)
日時：2013年6月15日(土) 会場：中央大学 後楽園キャンパス 6号館 7階 6701室 (http://www.chuo-u.ac.jp/chuo-u/access/index_j.html) 主催：IEEE Reliability Society Japan Chapter 参加費：無料 プログラム 14:15-14:20 開会挨拶(Chair：木村光宏) 14:20-15:20 超小型衛星とほどよし信頼性工学（概要） 佐原 宏典 氏（首都大学東京 システムデザイン学部 航空宇宙システム工学コース 教授） 15:20-15:25 休憩 15:25-16:25 Formal Engineering Methods for Software Quality Assurance（abstract） 劉 少英（Liu, Shao Ying） 氏（法政大学 情報科学部 コンピュータ科学科 教授） 16:25-16:30 休憩 16:30-17:30 Technology Trends of Dependability in the Recent Decade（概要） 金川 信康 氏（日立製作所 日立研究所 主管研究員） 17:30-17:35 閉会挨拶（Vice-Chair：早川有） 18:00-20:00 キャンパス近隣にて懇親会を予定（会費制）
IEEE Reliability Society Japan Chapter Annual Meeting & 2011年度 Chapter Awards受賞記念講演会
日時：2012年6月16日(土) 10:00-12:10 会場：首都大学東京 秋葉原サテライトキャンパス (http://www.tmu.ac.jp/university/campus_guide/access.html) 主催：IEEE Reliability Society Japan Chapter 参加費：無料 プログラム 10:00-10:05 開会挨拶(Chair：土肥正) 10:05-10:20 授賞式 10:20-10:45 拡張蓄積疲労モデル 作村建紀 氏（九州工業大学大学院） (2011年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter 学術奨励賞) 10:45-11:10 Estimating Software Failure Rate by a Daubechies Wavelet Estimator 肖霄 氏（広島大学大学院） (2011年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter 学術奨励賞) 11:10-11:35 信頼・保全性研究雑感 中川覃夫 氏（愛知工業大学） (2011年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter 技術功績賞) 11:35-12:05 Codesign-Oriented Performability Modeling for Hardware-Software Systems 得能貢一 氏・山田茂 氏（鳥取大学） (2011年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter 論文賞) 12:05-12:10 閉会挨拶(Vice Chair：木村光宏)IEEE Reliability Society Japan Chapter Seminar (セミナーの様子)
日時：2012年6月16日(土) 13:30-17:25 会場：首都大学東京 秋葉原サテライトキャンパス (http://www.tmu.ac.jp/university/campus_guide/access.html) 主催：IEEE Reliability Society Japan Chapter 参加費：無料 プログラム 13:30-13:35 開会挨拶(Chair：土肥正) 13:35-14:05 VLSIのテストと市場不良率 岩崎一彦 氏（首都大学東京 システムデザイン学部 教授） 14:05-15:05 宇宙システムの信頼性向上策 武内信雄 氏（JAXA 技術参与・信頼性統括） 15:05-15:20 休憩 15:20-16:20 多状態システムの順序構造と応用 大鑄史男 氏（名古屋工業大学 大学院工学研究科 教授） 16:20-17:20 Interactive Verification of Low-level Programs using the Coq Proof-assistant Reynald Affeldt 氏（産業技術総合研究所 研究員） 17:20-17:25 閉会挨拶（Vice-Chair：木村光宏） 18:00-20:00 懇親会（会費制）
IEEE Reliability Society Japan Chapter Annual Meeting & 2010年度 Chapter Awards受賞記念講演会
日時：2011年6月11日(土) 10:00-12:35 会場：首都大学東京 秋葉原サテライトキャンパス (http://www.jspe.or.jp/iinkai/prost/data/satellite.pdf) 主催：IEEE Reliability Society Japan Chapter 参加費：無料 プログラム 10:00-10:05 開会挨拶(Chair:土肥正) 10:05-10:20 授賞式 10:20-10:45 Optimal Checkpoint Density for Hybrid State Saving 大原 衛 氏 (東京都立産業技術研究センター) (2010年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter 学術奨励賞) 10:45-11:10 Optimal Maintenance Policy with an Interval of Duplex System 水谷聡志 氏 (愛知工科大学) (2010年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter 学術奨励賞) 11:10-11:35 高信頼放送用送信装置の開発・実用化 生岩量久 氏 (広島市立大学) (2010年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter 技術功績賞) 11:35-12:00 信頼性活動について 尾崎俊治 氏 (南山大学) (2010年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter 技術功績賞) 12:00-12:30 Optimum Specimen Sizes and Sample Allocation for Two Competing Failure Modes 鈴木和幸 氏 (電気通信大学) (2010年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter 論文賞) 12:30-12:35 閉会挨拶(Vice Chair:木村光宏)IEEE Reliability Society Japan Chapter Seminar
日時：2011年6月11日(土) 14:00-17:10 会場：首都大学東京 秋葉原サテライトキャンパス (http://www.jspe.or.jp/iinkai/prost/data/satellite.pdf) 主催：IEEE Reliability Society Japan Chapter 参加費：無料 プログラム 14:00-14:05 開会挨拶(Chair:土肥正) 14:05-15:05 より信頼できる指標に基づくシステム性能の最適化 恐神貴行 氏 (日本IBM(株)東京基礎研究所 主任研究員) 15:05-16:05 ソフトウェア開発・テストにおいて信頼性達成に必要な原理・原則はあるのか 松尾谷徹 氏 (有限会社デバッグ工学研究所 代表) 16:05-17:05 信頼性・安全性の確保とトラブル未然防止 鈴木和幸 氏 (電気通信大学 情報理工学部 教授) 17:05-17:10 閉会挨拶(Vice Chair:木村光宏)
IEEE-RS Chapter Annual Meeting & 2009年度 Chapter Awards受賞記念講演会
日時：2010年9月18日(土) 15:00-17:00 会場：日本大学 経済学部 7号館13階 会議室3 (http://www.eco.nihon-u.ac.jp/accessmap/) 主催：IEEE Reliability Society Japan Chapter 参加費：無料 プログラム 15:00-15:10 Chair挨拶 15:10-15:25 授賞式 15:25-15:55 看護における違反事例の収集と心理的要因の関わり 安達悠子 氏 (2009年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter学術奨励賞) 15:55-16:25 フェールセーフなリモートI/Oの構成方法 安澤卓也 氏 (2009年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter学術奨励賞) 16:25-16:55 Lifetime Estimation Using Only Failure Information From Warranty Database M. Mesbahul Alam and Kazuyuki Suzuki (2009年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter論文賞) 16:55-17:00 閉会挨拶
IEEE Japan-Taiwan Reliability Workshop
日時：2009年6月20日(土) 10:00-12:00 会場：日本大学 経済学部 7号館13階 会議室3 (http://www.eco.nihon-u.ac.jp/accessmap/) 主催：IEEE Reliability Society Japan Chapter 参加費：無料 ※IEEE会員以外の方もご参加いただけます。 Date: June 20, 2009 (10:00 to 12:00) Venue: Conference Room 3, 13rd Floor, Building 7, College of Economics, Nihon University (3 minutes walk from Suidobashi Sta. of JR, Sobu line) http://www.eco.nihon-u.ac.jp/english/accessmap/ Official Language: English Host: IEEE Reliability Society Japan Chapter Registration Fee: Free (We welcome non IEEE member.) Schedule: 10:00-10:20 Opening 10:20-11:00 "Optimal Random Maintenance Policies" Prof. Mingchih Chen (Chaoyang University of Technology) 11:00-11:40 "Partition Number, Redundant Number and Golden Ratio in Reliability" Prof. Toshio Nakagawa (Aichi Institute of Technology) 11:40-12:00 ClosureIEEE-RS Chapter Annual Meeting & 2008年度 Chapter Awards受賞記念講演会
日時：2009年6月20日(土) 14:00-16:30 会場：日本大学 経済学部 7号館13階 会議室3 (http://www.eco.nihon-u.ac.jp/accessmap/) 主催：IEEE Reliability Society Japan Chapter 参加費：無料 プログラム 14:00-14:15 Chair挨拶および2008 Chapter Awards 授賞式 14:15-14:45 Safety Achieved by the Safe Failure Fraction (SFF) in IEC61508 Itaru Yoshimura and Yoshinobu Sato (Tokyo University of Marine Science and Technology) (2008年度IEEE Reliability Society Japan Chapter論文賞) 14:45-15:15 光結合フェールセーフ論理回路を用いた安全デバイスの提案 工藤大地 ((株)日本信号) (2008年度IEEE Reliability Society Japan Chapter学術奨励賞) 15:15-15:25 休憩 15:25-15:55 空港における保安技術の研究開発動向 ?核四重極共鳴を用いた爆薬検知? 近内亜紀子 (海上技術安全研究所) (2008年度IEEE Reliability Society Japan Chapter学術奨励賞) 15:55-16:25 3パラメータワイブル分布, 3パラメータガンマ分布における一致推定量の構成 長塚豪己 (首都大学東京) (2008年度IEEE Reliability Society Japan Chapter学術奨励賞) 16:25-16:30 閉会挨拶
IEEE-RS Chapter Annual Meeting & 2007年度 Capter Awards受賞記念講演会
日時 平成20年7月26日(土) 14:00-16:30 会場：日本工業大学 神田キャンパス 501号室 http://mot.nit.ac.jp/access.html 参加費 無料 資料準備の都合上，ご出席いただけます方は7月18日までに secretary (防衛大学校 弓削哲史, yuge＠nda.ac.jp, FAX:046-844-5903)まで ご連絡下さいますようお願い申し上げます. プログラム 授賞式 14:00 Chair挨拶および2007 Chapter Awards 授賞式 記念講演会 14:10 オープンソースソフトウェアに対する信頼性評価のための確率微分方程式モデルとその応用 田村慶信(広島工業大学)(2007年度学術奨励賞) 14:50 ＬＳＩの微細Ｃｕ配線におけるエレクトロマイグレーション信頼性 横川慎二(ＮＥＣエレクトロニクス)(2007年度論文賞) 15:30 信頼性のフロンティア ??サービスから環境まで?? 益田昭彦(帝京科学大学)(2007年度信頼性技術功績賞) 16:10 閉会挨拶
IEEE Japan-Korea Reliability Workshop
日時：2007年11月17日(土) 13:30?17:00 会場：日本工業大学 神田キャンパス 502号室 http://mot.nit.ac.jp/access.html 主催:IEEE R Japan Chapter 参加費:無料 ※IEEE会員以外の方もご参加いただけます。 Date: November 17, 2007 (13:30 to 17:00) Venue: Room 502, Kanda Campus, Nippon Institute of Technology http://mot.nit.ac.jp/english/submenu/access.html (2 minutes walk from Jimbo-cho Sta. of Tokyo metro, Hanzomon line) Official Language: English Host:IEEE R Japan Chapter Registration Fee: Free(We welcome non IEEE member.) Schedule:
1330-1335 Opening 1335-1415 "Evolutionary Design of N-version Program" Prof. Yasuhiro Tsujimura
(Nippon Institute of Technology)1415-1455 "On a Random Failure Rate Model" Prof. Ji Hwan Cha
(Pukyong National University)1455-1510 Break 1510-1550 "Reliability evaluation method of systems with permissible repair time and imperfect switchover" Prof. Hitoshi Watanabe
(Tokyo University of Science)1550-1630 Optimization issues in multi-unit systems" Prof. Won Young Yun
(Pusan National University)1630- Closure
IEEE-RS Chapter Annual Meeting & 2006年度 Capter Awards受賞記念講演会
日時 平成19年7月28日(土) 13:00-16:30 場所 電気通信大学 西5号館 314号室 http://www.uec.ac.jp/acc/map.html#campus (〒182-8585 東京都調布市調布ヶ丘1-5-1) 参加費 無料 資料準備の都合上，ご出席いただけます方は7月20日までに secretary (防衛大学校 弓削哲史, yuge＠nda.ac.jp, FAX:046-844-5903)まで ご連絡下さいますようお願い申し上げます. プログラム 授賞式 13:00 Chair挨拶および2006 Chapter Awards 授賞式 (柳 繁、鈴木和幸) 記念講演会 13:10 日中信頼性技術交流（挨拶） 額田啓三，(2006年度信頼性技術功績賞) 13:25 LSI故障解析技術 二川清（ＮＥＣエレクトロニクス），(2006年度信頼性技術功績賞) 14:05 ドライバ適応的衝突警報の提示タイミングと信頼 安部原也（日本自動車研究所）,(2006年度学術奨励賞) 14:45 休憩 15:00 離散ワイブル型故障発生時間分布に基づいたソフトウェア信頼性モデル 井上真二（鳥取大学）,(2006年度学術奨励賞) 15:40 Optimality of Monotone Procedure in Preventive Maintenance Lu JIN（電気通信大学）,(2006年度論文賞) 16:20 総合討論(chapter活動方針についての議論を含む)
行事名：リスク工学研究会
目的：自動車の運転支援システムの最近の開発動向について、レーンキ ープサポートならびにプリクラッシュセーフティを例にご紹介いただき、 信頼性や安全性をさらに向上させるための今後の課題などについて聴衆 と議論する。
参加費： 無料
主催団体：筑波大学システム情報工学研究科リスク工学専攻
共催団体：IEEE Reliability Society Japan Chapter
開催日時：平成18年11月1日（水） 14:00-17:00
開催場所： 筑波大学東京キャンパス（秋葉原ダイビル）第3教室
http://www.tsukuba.ac.jp/navi/img/tokyo-campus_b.gif
講演会の構成
14:00-14:10 開会の挨拶
14:10-15:10 本田技研様 レーンキープサポートの紹介（仮）
15:10-15:30 休憩
15:30-16:30 日野自動車様 大型トラックのプリクラッシュセーフティ
16:30-17:00 全体ディスカッション
中條武志
中央大学 教授
題目：医療におけるエラープルーフ化?系統的にエラープルーフ化を進めるための３
フェーズと支援ツール?
要旨：
医療において、人的エラーは質・安全・能率に大きな影響を与える。これらを防止するために多くのエラープルーフ化の対策が行われ、成功を収めているが、そ
のほとんどは既存のノウハウをうまく活用することなく、個別に考案されている。本発表では、医療においてエラープルーフ化を系統的に進めるための一つの方
法を提案する。この方法は、(1) 改善の機会を発見する、(2) 対策案を生成する、(3)
対策案を評価・選定する、という３つのフェーズから構成される。第１フェーズでは、ＨＦＭＥＡを基本とし、その実施を容易にするツールとして一般化サブプ
ロセス、一般化失敗モードを用いる。第２フェーズでは、多くのエラープルーフ化の事例の背後に共通する発想法を抽出して、チェックリスト化・データベース
化することで対策案の生成を促進する。第３フェーズでは、生成された対策案をSolution Priority
Numberを用いて重要度付けする。提案する方法を実際のプロジェクトに適用した例についても報告する。
田中健次
電通大 教授
題目：人間に依存する冗長化の落とし穴?効果的な冗長化はいかに実現できるか
要旨：高信頼性・安全性を確保する上で、冗長並列化は有効な設計手法である。しかし、人間に一部を頼る現実の冗長系では、並列モデルでの信頼度計算のような効果は期待できない。様々な落とし穴がそこにあるからである。
前半では、人間作業による多重防護、例えば、Ｗチェックによる確認作業などでは、作業者間の独立性が成り立たないばかりか、さらにその効果を低下させる他の要因があることを指摘する。後半では、人間操作と自動化の多重化による安全確保の問題点、
フールプルーフ設計への過信がもたらす落とし穴などを考える。